高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱電腦失效驗(yàn)證試驗(yàn)升降溫快

簡(jiǎn)要描述：高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱電腦失效驗(yàn)證試驗(yàn)升降溫快
用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車(chē)輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量

產(chǎn)品型號(hào)： SME-100PF

所屬分類(lèi)：高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱

更新時(shí)間：2024-06-28

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

??高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱電腦失效驗(yàn)證試驗(yàn)升降溫快

是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域*的檢測(cè)設(shè)備，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

1）溫濕度控制儀表采用“韓國(guó)原裝TEMI990"大屏幕-液晶顯示-可編程微電腦PID控制SSR輸出運(yùn)行

2）具有PID自整定功能、模糊控制功能、多點(diǎn)報(bào)警功能、參數(shù)屏蔽功能、用戶(hù)調(diào)整功能、斜坡/保溫功能　　
3）傳感器為*Pt100鉑電阻傳感器，精度高，準(zhǔn)確　　

高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則設(shè)備結(jié)構(gòu)該設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼板，箱門(mén)中間設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶(hù)可以清晰地看到試樣的試驗(yàn)情況。外型整體美觀大方。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱電腦失效驗(yàn)證試驗(yàn)升降溫快

試樣限制
	本試驗(yàn)設(shè)備禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
3.容積、尺寸和重量
3.1.標(biāo)稱(chēng)內(nèi)容積 3.2.內(nèi)箱尺寸 3.3.外型尺寸 3.4.重量	80L W 400×H 500×D 400mm W 700×H 1640×D 1150mm
4.性能
4.1.測(cè)試環(huán)境條件 4.2.測(cè)試方法	環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下 GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品溫度試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)
4.3.溫度范圍	-40℃→+150℃
4.4.溫度波動(dòng)度	±0.5℃
4.5.溫度偏差	±2.0℃
4.6.濕度范圍	20%～98%R.H
4.7.濕度波動(dòng)度	±2.5%R.H.
4.8.濕度均勻度	±3.0%RH（濕度＞ 75%RH） ±5.0%RH（濕度 ≤75%RH）
4.9.升溫時(shí)間	-40℃→+150℃ 65min
4.10.降溫時(shí)間	+20℃→-40℃ 60min
4.11.負(fù)載情況	空載
4.12.溫濕度控制范圍圖
4.13.滿(mǎn)足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)	GB/T 2423.1-2008試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法 GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法 GJB 150.3-1986 高溫試驗(yàn) GJB 150.4-1986 低溫試驗(yàn) IEC68-2-1 試驗(yàn)A：寒冷 IEC68-2-2 試驗(yàn)B：干熱